使用頻譜分析儀進(jìn)行EMI診斷測(cè)試方案

使用頻譜分析儀進(jìn)行EMI診斷測(cè)試方案
 
 電磁干擾（EMI）：指設(shè)備正常運(yùn)行時(shí)對(duì)環(huán)境產(chǎn)生的電磁干擾，分為輻射干擾（RE）和傳導(dǎo)干擾（CE）。為了使電子產(chǎn)品符合相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)，在開(kāi)發(fā)過(guò)程中進(jìn)行必要的EMI診斷測(cè)試不僅可以提升產(chǎn)品的性能質(zhì)量，同時(shí)可以節(jié)約成本。
 方案特色：
 使用R&S頻譜儀，德國(guó)工藝，性能保證。
 兼容多種型號(hào)主機(jī)和附件，滿足用戶的不同需求。
 自動(dòng)化測(cè)試，集成多種軍/民標(biāo)、汽車電子標(biāo)準(zhǔn)。
 設(shè)備支持后續(xù)升級(jí)。
 R&S測(cè)試軟件ELEKTRA
 直觀設(shè)計(jì)以進(jìn)行交互式、自動(dòng)化 EMC 測(cè)量。
 提供預(yù)定義模板，涵蓋常用 EMC 標(biāo)準(zhǔn)。
 根據(jù)被測(cè)設(shè)備創(chuàng)建特定測(cè)試計(jì)劃和報(bào)告。
 高效分析結(jié)果并生成報(bào)告。
 
 
 一、輻射干擾（RE）診斷測(cè)試
 輻射干擾主要是指設(shè)備以電磁波的形式向環(huán)境中發(fā)射能量的現(xiàn)象，對(duì)周圍環(huán)境中的設(shè)備可能造成嚴(yán)重干擾。輻射干擾診斷測(cè)試系統(tǒng)主要由頻譜儀、近場(chǎng)探頭、低噪聲放大器和衰減器組成，滿足用戶進(jìn)行輻射發(fā)射摸底測(cè)試的需求。
 
 二、傳導(dǎo)干擾（CE）診斷測(cè)試：
 傳導(dǎo)干擾主要測(cè)量受試設(shè)備（EUT）在正常工作狀態(tài)下通過(guò)電源線、信號(hào)端口、控制端口對(duì)周圍環(huán)境所產(chǎn)生的騷擾，測(cè)試頻率范圍主要為9kHz~30MHz。系統(tǒng)主要由 EMI 測(cè)試接收機(jī)、人工電源網(wǎng)絡(luò)（LISN）和測(cè)試軟件組成。其中人工電源網(wǎng)絡(luò)可以在給定的頻率范圍內(nèi)，為騷擾電壓的測(cè)量提供標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的50歐姆阻抗，并使EUT與電源相互隔離。當(dāng)EUT電流過(guò)大，或無(wú)法使用LISN進(jìn)行測(cè)量時(shí)，如EUT控制端口，可使用高阻抗電壓探頭配合接收機(jī)測(cè)量。
 圖片
 
 三、訂貨信息：
 
 1、接收機(jī)模式，適用于電路板、集成電路或電纜屏蔽等EMI調(diào)試。
 2、內(nèi)置跟蹤信號(hào)源、接收機(jī)模式，可選配矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀模式。
 EMC測(cè)試接收機(jī)、3G頻譜分析儀二合一。
 
 
 1、可執(zhí)行多種測(cè)量任務(wù)的儀器。
 2、支持頻譜分析,支持結(jié)合使用功率探頭進(jìn)行功率測(cè)量,以及分析模擬和數(shù)字調(diào)制信號(hào)。
 1、專為預(yù)認(rèn)證診斷測(cè) 量而設(shè)計(jì)的,以便產(chǎn)品準(zhǔn)備好接受*終的認(rèn)證測(cè)試。
 2、根據(jù)商用標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行 干擾測(cè)量。