溫升測試的干擾

日期：2025-05-03 11:43

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摘要：溫升測試的干擾，運(yùn)用上述方法尤其要注意一點(diǎn)：測試電路與記錄儀內(nèi)部電路之間，通過光電耦合絕緣，可以大幅度減低從傳感器來的共模干擾，即使不慎在傳感器上加了高壓，也不至破壞記錄儀, 或?qū)Σ僮魅藛T造成傷害！

溫升測試的干擾

電源行業(yè)溫升測試的難點(diǎn)在于：
熱電偶產(chǎn)生的熱電勢信號非常微小。
隨著變頻器的普及，測試環(huán)境變得越來越惡劣。

溫度記錄儀抑制干擾的對策：
使用高共摸抑制比、高串模抑制比、高共模耐壓測試設(shè)備。
測試電路與內(nèi)部電路的絕緣方式（光電耦合絕緣*佳）。
采用積分型A/D,在對模擬量進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換時，先對模擬信號進(jìn)行積分運(yùn)算。
針對不同工頻干擾頻率，設(shè)定合適測量周期。
同時使用一階低通濾波與A/D積分的方式。
區(qū)別于常規(guī)掃描型模塊，獨(dú)立A/D測試模塊能有效去除通道切換造成的影響。
熱電偶前端與被測點(diǎn)絕緣能有效抑制共摸干擾。
熱電偶線采用雙絞屏蔽線、采用電磁屏蔽措施。
使用溫度變送器（4mA-20mA輸出）、外置濾波電容等。
運(yùn)用上述方法尤其要注意一點(diǎn)：測試電路與記錄儀內(nèi)部電路之間，通過光電耦合絕緣，可以大幅度減低從傳感器來的共模干擾，即使不慎在傳感器上加了高壓，也不至破壞記錄儀, 或?qū)Σ僮魅藛T造成傷害！

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